HS800性能特點(diǎn)

A特優(yōu)點(diǎn)
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超高亮彩色液晶顯示器

超聲衍射波探傷，解決傳統(tǒng)探傷單次掃查區(qū)域的局限性和不直觀性

缺陷A掃、厚度B掃、B掃、P掃、D掃全屏直觀顯示

便攜掃查器代替手工掃查，探傷更快、更

多通道TOFD探傷，實(shí)現(xiàn)焊縫非平行掃查一次性**覆蓋

超大機(jī)內(nèi)存儲空間，探傷數(shù)據(jù)回放及離線分析

高性能安保鋰電，模塊插接，一機(jī)兩電，超長續(xù)航

B 數(shù)字電路
采樣頻率：125M

頻率帶寬：0.5~15MHZ

采樣延時：1200mm

脈沖電壓：-400V

脈沖前沿：15ns

重復(fù)頻率：125HZ

匹配阻抗：25Ω、500Ω2檔可調(diào)

檢波方式：數(shù)字檢波方式

增益范圍：0dB~110dB（0.1dB、2.0dB、6.0dB步進(jìn)，全自動調(diào)節(jié)）

閘門數(shù)：每通道2個位

C掃描范圍
多路TOFD檢測和PE檢測**覆蓋200mm厚度以內(nèi)焊縫的分區(qū)掃查

D 探傷功能
掃查方式：可對焊縫進(jìn)行**的平行和非平行掃查

缺陷定位：數(shù)據(jù)分析線能直接讀出缺陷深度以及非點(diǎn)狀缺陷的自身高度

焊縫內(nèi)部缺陷顯示：直觀顯示焊縫中缺陷的位置和上下端點(diǎn)位置

A型掃描：射頻顯示提高儀器對材料中缺陷模式的評價能力

B型掃描：實(shí)時顯示缺陷截面形狀

D型掃描：實(shí)時顯示缺陷的灰度掃查圖，直觀顯示缺陷并對缺陷模式進(jìn)行評價

E數(shù)據(jù)存儲與輸出
1通道、5通道、7通道三種可選，預(yù)先調(diào)校好各類探頭與儀器的組合參數(shù)，方便存儲、離線分析、復(fù)驗(yàn)、打印、通訊傳輸

超大內(nèi)存容量，單次掃查即能記錄長達(dá)2米被檢工件內(nèi)部缺陷的檢測圖

支持USB、LAN、VGA輸出

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